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涂鍍層測(cè)厚儀的原理及應(yīng)用
涂層測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀。其原理如下:
磁性測(cè)厚原理:當(dāng)探頭與涂層接觸時(shí),霍爾發(fā)現(xiàn)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比,探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。由于非磁性覆蓋層的存在,磁路的磁阻發(fā)生變化,與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬上會(huì)產(chǎn)生渦流基板,與厚度 d 成反比。覆蓋層的厚度可以通過(guò)測(cè)量其變化來(lái)計(jì)算。
渦流測(cè)厚原理:利用高頻交流電在線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),采用磁性測(cè)厚法無(wú)損測(cè)量磁性金屬上非磁性涂層的厚度,而現(xiàn)在又出現(xiàn)了一種新型的涂層測(cè)厚儀,那就是涂層測(cè)厚儀,它采用了最新的磁感應(yīng)技術(shù)。又稱霍爾效應(yīng),是霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可以無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基板上非導(dǎo)電層的厚度。通過(guò)研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系,測(cè)量電磁鐵的磁導(dǎo)率,研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,涂層測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、和一個(gè)涂層量規(guī)。采用磁測(cè)厚和渦流測(cè)厚原理。
涂層測(cè)厚儀按測(cè)量原理一般有以下五種方法:
1、磁性測(cè)厚法:適用于導(dǎo)磁材料上非磁性層的厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼、銀、鎳。該方法測(cè)量精度高
2、渦流測(cè)厚法:適用于導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層的厚度測(cè)量。
3、超聲波測(cè)厚法:目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有采用這種方法測(cè)量鍍層的厚度。國(guó)外一些廠家有這樣的儀器,適用于多層鍍層厚度的測(cè)量或以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量。場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,如200超聲波涂層測(cè)厚儀專用于測(cè)量非金屬基材上的涂層。
4、電解測(cè)厚法:此法不同于以上三種方法。不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞鍍層。一般準(zhǔn)確率不高。它比其他類型的測(cè)量更麻煩。
5、輻射測(cè)厚儀:這種儀器很貴(一般在10萬(wàn)人民幣以上),適用于在一些特殊的場(chǎng)合。